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Mycronic Iris 3D AOI 视觉技术

作者:小编 浏览量: 时间:2023-10-18 15:06:37

信息摘要:

在汽车和工业电子领域,变革的步伐不断加快。元件尺寸更小,装配更先进。不懈追求更高的速度和精度。新一代Iris 3D视觉技术代表了高性能3D AOI发展的重要一步。专为要求苛刻的节拍时间而设计得益于新一代基于激光的3D传感器、光源和计算系统,Iris技术能够以比K3D技术快30%的速度实现行业最高质量的2D和3D图像捕捉。因此,即使在最苛刻的生产节拍下,您也能以前所未有的分辨率捕捉每个细节,同时将误...

在汽车和工业电子领域,变革的步伐不断加快。元件尺寸更小,装配更先进。不懈追求更高的速度和精度。新一代Iris 3D视觉技术代表了高性能3D aoi发展的重要一步。

Mycronic Iris 3D AOI 视觉技术(pic1)

专为要求苛刻的节拍时间而设计

得益于新一代基于激光的3D传感器、光源和计算系统,Iris技术能够以比K3D技术快30%的速度实现行业最高质量的2D和3D图像捕捉。因此,即使在最苛刻的生产节拍下,您也能以前所未有的分辨率捕捉每个细节,同时将误判降至最低。

新的Iris 3D视觉技术是所有MYPro I系列AOI系统的标准配置,或者作为以前K系列2D或3D AOI平台的性能升级。面对至关重要的生产节拍或最高一次通过率,Iris结合了最新的先进技术来加速未来的高性能检测应用。

检测时间缩短高达 30%

扫描头光学系统、激光系统、照明系统和计算系统的全面升级使检测周期比以前的K3D系统快30%。

更智能的图像处理

图像更大,但图像处理速度更快、功能更强大

新的3D重建算法降低拉尖

更清晰的2D和3D图像质量

尖端的3D激光传感器和重新设计的远心光学镜头,视野扩大33%

13.7μm像素尺寸带来更清晰的2 D和3 D图像,可实现出色的3.45μm XY子像素分辨率

更宽的测试覆盖范围和增强的审查图像,适用于小至008004/0201公制的元件

卓越的精度和覆盖范围

Iris 3D视觉技术结合了一流的计量和图像捕获系统,为所有类型的元件、引脚和连接器提供即用型2D和3D测试的综合工具箱。

完整的测试覆盖范围

缺陷检测覆盖整个元器件本体和焊点,准确识别贴装错误、立碑、翘脚等缺陷。

精确的光学计量

高精度计量将高清2D纹理与无阴影3D检测相结合,可消除图像裁剪和翘曲效应。

3D扫描技术

3D传感器:防阴影3D传感器,基于激光和角度镜头

光学镜头:高精度远心镜头

视野范围 (XxY) :60.5x60.5mm (2.38x2.38″)

光源类型:带全息散射器的垂直和环绕LED光源

光源颜色:白色

翘曲补偿:±5mm补偿,保持统一的高度测量精度

检测性能

高度检测范围:-5mm - +20mm

X, Y分辨率:3.45μm (子像素技术) / 13.7μm (分辨率)

高度分辨率:在25mm高度范围内保持1μm恒定分辨率

操作系统:Windows 10, 64-bit

我们专注为电子制造商提供如下SMT设备

印刷机、 SPI、贴片机、AOI、回流焊、X-Ray等整条SMT生产线设备;

上下板机、接驳台、涂覆机、点胶机、接料机等SMT周边设备

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